Pergi ke kandungan

Kristalografi sinar-x

Daripada Wikipedia, ensiklopedia bebas.
Difraktometer sinar-x serbuk x-ray dalam gerakan

Kristalografi sinar-X(XRC) ialah teknik yang digunakan untuk menentukan strukturatomdanmolekulkristal,di mana struktur kristal menyebabkan pancaransinar-Xuntuk meresap ke arah tertentu. Dengan mengukur sudut dan intensiti rasuk ini, seorang kristalografi boleh menghasilkan gambaran tiga dimensi ketumpatan elektron dalam kristal. Daripada kepadatan elektron ini, jisim atom-atom dalam kristal dapat ditentukan, serta ikatan kimia mereka, gangguan kristalografi mereka, dan pelbagai maklumat lain.[1][2][3][4]

Oleh kerana banyak bahan boleh membentuk kristal-sepertigaram,logam,mineral,semikonduktor,serta pelbagai molekul organik, organik dan biologi-kristalografi sinar-X telah menjadi asas dalam pembangunan banyak bidang saintifik. Dalam dekad pertama penggunaannya, kaedah ini menentukan saiz atom, panjang dan jenis ikatan kimia, dan perbezaan skala atom di antara pelbagai bahan, terutamanya mineral danaloi.Kaedah ini juga mendedahkan struktur dan fungsi molekul biologi yang banyak, termasukvitamin,ubat,proteindanasid nukleiksepertiDNA.Kristalografi sinar-X masih merupakan kaedah utama untuk mencirikan struktur atom bahan-bahan baru dan bahan-bahan cerdas yang kelihatan sama dengan eksperimen lain. Struktur kristal sinar-X juga boleh menyumbang kepada sifat-sifatelektronikatauelastikyang luar biasa dari bahan, memberikan cahaya kepada interaksi kimia dan proses, atau berfungsi sebagai asas untuk mereka bentukfarmaseutikalterhadap penyakit.[5]

Dalam pengukuran difraksi sinar-X tunggal, kristal dipasang pada goniometer. Goniometer digunakan untuk meletakkan kristal pada orientasi yang dipilih. Kristal diterangi dengan pancaran monokromatik halus X-ray yang halus, menghasilkan corak difraksi dari tempat-tempat yang kerap dipanggil renungan. Imej dua dimensi yang diambil pada orientasi yang berbeza akan diubah menjadi model tiga dimensi ketumpatan elektron dalam kristal menggunakan kaedah matematik Transformasi Fourier, digabungkan dengan data kimia yang diketahui untuk sampel.Leraian gambarterhasil yang lemah atau bahkan kesalahan boleh berlaku jika kristal terlalu kecil, atau tidak cukup seragam dalam solek dalaman mereka.[6]

  1. ^Bragg WH(1907). "The nature of Röntgen rays".Transactions of the Royal Society of Science of Australia.31:94.
  2. ^Bragg WH (1908). "The nature of γ- and X-rays".Nature.77(1995): 270.Bibcode:1908Natur..77..270B.doi:10.1038/077270a0.See alsoBragg, W. H. (1908). "The Nature of the γ and X-Rays".Nature.78(2021): 271.Bibcode:1908Natur..78..271B.doi:10.1038/078271a0.Bragg, W. H. (1908). "The Nature of the γ and X-Rays".Nature.78(2022): 293.Bibcode:1908Natur..78..293B.doi:10.1038/078293d0.Bragg, W. H. (1908). "The Nature of X-Rays".Nature.78(2035): 665.Bibcode:1908Natur..78R.665B.doi:10.1038/078665b0.
  3. ^Bragg WH (1910). "The consequences of the corpuscular hypothesis of the γ- and X-rays, and the range of β-rays".Phil. Mag.20(117): 385.doi:10.1080/14786441008636917.
  4. ^Bragg WH (1912). "On the direct or indirect nature of the ionization by X-rays".Phil. Mag.23(136): 647.doi:10.1080/14786440408637253.
  5. ^Barlow W (1883). "Probable nature of the internal symmetry of crystals".Nature.29(738): 186.Bibcode:1883Natur..29..186B.doi:10.1038/029186a0.See alsoBarlow, William (1883). "Probable Nature of the Internal Symmetry of Crystals".Nature.29(739): 205.Bibcode:1883Natur..29..205B.doi:10.1038/029205a0.Sohncke, L. (1884). "Probable Nature of the Internal Symmetry of Crystals".Nature.29(747): 383.Bibcode:1884Natur..29..383S.doi:10.1038/029383a0.Barlow, WM. (1884). "Probable Nature of the Internal Symmetry of Crystals".Nature.29(748): 404.Bibcode:1884Natur..29..404B.doi:10.1038/029404b0.
  6. ^Kepler J(1611).Strena seu de Nive Sexangula.Frankfurt: G. Tampach.ISBN3-321-00021-0.

Pautan luar

[sunting|sunting sumber]