Przejdź do zawartości

CMOS

Z Wikipedii, wolnej encyklopedii
Bramka logiczna NAND w technologii CMOS
Bramka logiczna NOR w technologii CMOS

CMOS(ang.Complementary Metal-Oxide-Semiconductor) – technologia wytwarzaniaukładów scalonych,głównie cyfrowych, składających się ztranzystorów MOSo przeciwnym typieprzewodnictwai połączonych w taki sposób, że w ustalonym stanie logicznym przewodzi tylko jeden z nich. Dzięki temu układ statycznie nie pobiera żadnej mocy (pomijając niewielki prąd wyłączenia tranzystora), a prąd ze źródła zasilania płynie tylko w momencie przełączania – gdy przez bardzo krótką chwilę przewodzą jednocześnie oba tranzystory. Tracona w układach CMOS moc wzrasta nieliniowo wraz z częstotliwością przełączania, co wiąże się z przeładowywaniem wszystkichpojemności,szczególnie tych obciążających wyjścia.

Układy CMOS są relatywnie proste i tanie w produkcji umożliwiając uzyskanie bardzo dużych gęstości upakowania tranzystorów na jednostce powierzchni płytki krzemu. W nowoczesnych układach powierzchnia zajmowana przez jeden tranzystor jest znacznie mniejsza od 1 µm².

Historia

[edytuj|edytuj kod]

Obwody CMOS zostały wynalezione w 1963 r. przezFranka Wanlassaz firmyFairchild Semiconductor.Pierwszy układ scalony wykonany w technologii CMOS powstał w firmieRadio Corporation of Americaw 1968 r., pod kierunkiemAlberta Medwina.Oryginalnie układy CMOS stanowiły oszczędną alternatywę do energochłonnych układówTTL.Znikomy pobór mocy przez te układy przy małych częstotliwościach przełączania stanowił atut zwłaszcza w układach zegarów przemysłowych oraz wszędzie tam, gdzie czas pracy z baterii był istotniejszy niż szybkość działania. Z czasem poprawiono także parametry dynamiczne i po 25 latach układy CMOS zdominowałyelektronikę cyfrową.

Temperatura pracy

[edytuj|edytuj kod]

Typowe układy CMOS mogą pracować w zakresie od −55 do +125 °C. Jednak już w sierpniu 2008 roku istniały przesłanki, że obwody CMOS mogą działać nawet do −230 °C, czyli 40 K[1].Realnie, temperatury w pobliżu 40 K zostały osiągnięte w przypadkuprzetaktowywaniaprocesoraAMD Phenom II,który był chłodzony przy pomocy mieszankiciekłego azotuiciekłego helu[2].

Bardzo małe tranzystory CMOS, o wielkości rzędu 20 × 20 nm, uzyskują ograniczenie jednoelektronowe, gdy działają w temperaturze kriogenicznej w zakresie od −269 °C (4 K) do około −258 °C (15 K). Tranzystor taki wykazuje blokadę Coulomba z powodu postępującego, jeden po drugim, ładowania elektronów. Ilość elektronów zamkniętych w kanale jest napędzana przez napięcie bramki, poczynając od zera elektronów, może być ustawiona na 1 lub więcej[3].

Podział układów CMOS

[edytuj|edytuj kod]

Układy CMOS można podzielić na cztery główne kategorie:

  1. Układy do zastosowań masowych,o niewielkiej szybkości działania. Przykładem są układy zegarkowe i proste, nieprogramowalne układy kalkulatorowe.
  2. Układy programowalne(takie jak układy PLD iFPGA) ispecjalizowane(ASIC).
  3. Uniwersalne układy cyfrowe LSI i VLSI,głównie układy mikroprocesorowe i pamięciowe.
  4. Uniwersalne układy cyfrowe SSI i MSI,stanowiące funkcjonalne odpowiedniki układów TTL.

Podstawowy układ CMOS

[edytuj|edytuj kod]
Inwerter wykonany w technologii CMOS (bramka logicznaNOT)

Podstawowym układem CMOS jestBramka NOT(inwerter), składająca się z dwóch komplementarnych tranzystorów MOS, połączonych w sposób pokazany na rysunku obok. Obydwa tranzystory są wykonane z bramką krzemową (zpolikrzemu,który służy także do połączenia obydwu bramek). Granice obszarów p-n stanowią diody pasożytnicze.

Zobacz też

[edytuj|edytuj kod]

Przypisy

[edytuj|edytuj kod]
  1. Edwards C.Temperature control.„Engineering & Technology Magazine”, 26 lipca - 8 sierpnia 2008. Institution of Engineering and Technology.
  2. Maximum PC Staff:Overclocked AMD Phenom II Hits 6.5GHz with Liquid Nitrogen/Helium Cooling.blogs.amd.com/patmoorhead, 2009-01-26. [dostęp 2015-05-26].(ang.).
  3. Prati, E.; De Michielis, M.; Belli, M.; Cocco, S.; Fanciulli, M.; Kotekar-Patil, D.; Ruoff, M.; Kern, D.P.; Wharam, D.A.; Verduijn, J.; Tettamanzi, G.C.; Rogge, S.; Roche, B.; Wacquez, R.; Jehl, X.; Vinet, M.; Sanquer, M.Few electron limit of n-type metal oxide semiconductor single electron transistors.„Nanotechnology”. 23, s. 215204, 2012.PMID:22552118.

Bibliografia

[edytuj|edytuj kod]
  • Józef Kalisz,Podstawy elektroniki cyfrowej,WKiŁ, Warszawa, 2007.