7.9　展望

X射线荧光光谱发展到今天，已成为了一门较为成熟的分析技术。在科学技术高速发展的形式下，仅局限于本学科的研究，似乎已难以取得大的突破。提出新见解、考虑新方法、引进新技术，或是改变角度看问题等，对于X射线荧光光谱分析的发展应是有益的，例如，化学态的不同可以导致谱峰的位移、畸变和改变峰宽。利用XRF技术进行化学态分析，尽管报道不多，但一直受到XRF领域研究人员的重视。目前用XRF进行化学态分析，多数情况下它的实用性不是太强，范围也较窄，优点不突出，在经过复杂的流程后难以获得理想结果。这使得它的发展在当前条件下受到了一定的限制；从动力学角度研究X射线荧光光谱（邱林友，1998），或探索长周期X射线驻波技术与应用等（陈学诗等，1997）。而更关键的是，高度关注交叉和边缘学科的技术进步，发现有希望、有潜力、有条件为XRF注入活力的研究领域，展开跟踪和探索性研究，为X射线荧光光谱技术进一步发展做好技术储备。目前，人工智能和知识工程相继引入，可能会明显改善XRF无标样分析的准确度；隧道效应、超导体研究等应是开展探测器研制的科研人员所关注的焦点之一；在激发源方面，X射线激光光源（郭玉彬，1998）则最有可能显著提高XRF技术在分析痕量元素或轻元素方面的检出能力，尽管它目前还多限于产生软X射线激光，但它的应用领域和发展前景则是深远而广阔的。