1, khả năng thị do vu ngạnh kiện thượng diện đích nguyên nhân, tạo thành chủ bản lão hóa tổn phôi, tòng nhi đạo trí chủ bản cố chướng; nhân vi nguyên nhân: Tại sử dụng điện não thời, tùy ý nhiệt sáp bạt ngạnh kiện hoặc loạn dụng kim chúc vật xúc bính các chủng tiếp đầu tòng nhi đạo trí chủ bản cố chướng; hôi trần, tĩnh điện nguyên nhân: Do vu hôi trần hoặc tĩnh điện đạo trí chủ bản tiếp xúc bất lương, đoản lộ hoặc thiêu hủy chủ bản thượng đích tâm phiến, nhi đạo trí chủ bản cố chướng. Tiếp xúc bất lương nguyên nhân: Do vu tú thực, dưỡng hóa, đạn tính giảm nhược, dẫn cước thoát hạn, chiết đoạn đẳng nguyên nhân đạo trí chủ bản trung các chủng tâm phiến, sáp tọa, tiếp khẩu tiếp xúc bất lương, nhi đạo trí chủ bản cố chướng;
2, thủ tiên kiểm tra điện não đích ngoại bộ tiếp tuyến thị phủ tiếp hảo, bả các cá liên tuyến trọng tân sáp nhất biến, khán cố chướng thị phủ bài trừ;
3, như quả cố chướng y cựu, tiếp trứ đả khai chủ cơ tương tra khán cơ tương nội hữu vô đa dư kim chúc vật, hoặc chủ bản biến hình tạo thành đích đoản lộ, văn nhất hạ cơ tương nội hữu vô thiêu tiêu đích hồ vị, chủ bản thượng hữu vô thiêu hủy đích tâm phiến, CPU chu vi đích điện dung hữu vô tổn phôi đẳng;
4, như quả một hữu, tiếp trứ thanh lý chủ bản thượng đích hôi trần, nhiên hậu kiểm tra điện não thị phủ chính thường;
5, như quả cố chướng y cựu, tiếp hạ lai bạt điệu chủ bản thượng đích Reset tuyến cập kỳ tha khai quan, chỉ kỳ đăng liên tuyến, nhiên hậu dụng cải trùy đoản lộ khai quan, khán năng phủ năng khai cơ;
6, như quả bất năng khai cơ, tiếp trứ sử dụng tối tiểu hệ thống pháp, tương ngạnh bàn, nhuyễn khu, quang khu đích sổ cư tuyến bạt điệu, nhiên hậu kiểm tra điện não thị phủ năng khai cơ, như quả điện não hiển kỳ khí xuất hiện khai cơ họa diện, tắc thuyết minh vấn đề tại giá kỉ cá thiết bị trung. Tiếp trứ tái trục nhất bả dĩ thượng kỉ cá thiết bị tiếp nhập điện não, đương tiếp nhập mỗ nhất cá thiết bị thời, cố chướng trọng hiện, thuyết minh cố chướng thị do thử thiết bị tạo thành đích, tối hậu tái trọng điểm kiểm tra thử thiết bị;
7, như quả cố chướng y cựu, tắc cố chướng khả năng do nội tồn, hiển tạp, CPU, chủ bản đẳng thiết bị dẫn khởi. Tiếp trứ sử dụng sáp bạt pháp, giao hoán pháp đẳng phương pháp phân biệt kiểm tra nội tồn, hiển tạp, CPU đẳng thiết bị thị phủ chính thường, như quả hữu tổn phôi đích thiết bị, canh hoán tổn phôi đích thiết bị;